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用万用表测可控硅好坏，容易误判，且不能带电在线测量。最好的办法还是、要接强电和负载、并加触发电压测试。笔者在长期实践中，有一种最为简便可靠的测试方法。
某可控硅SCR控制器主电路如图l的虚线框内所示，改用60W灯泡作负载，SCR为待测可控硅。准备一支二极管lN4007，正极接可控硅阳极，负极串联电流表碰触可控硅控制极，如灯泡亮（灯泡亮度比正常小），电流表指示几毫安以下，可控硅是好的。如果电流很大，正好等于通过灯泡电流（90V电压加在60W灯泡上，约0.14A），显然AK没有电流通过，可控硅损坏断路了。有经验的电工不必串联电流表，按照碰触瞬间产生火花情况就可进行判断。如图1，先将二极管正极与SCR的A极连接牢固，再把二极管负极碰触SCR的G极，对于好的SCR，因通过二极管电流很小，不产生火花；如果SCR的AK断路，流过二极管的电流很大，就会有明显火花，所以两者情况不用电流表也可判断。如灯泡不亮（排除因线路故障无输出情况），肯定可控硅损坏。
用二极管接触可控硅AG，进行触发，它不要其他触发电源，也是安全的。
读者可能有顾虑，直接用强电触发，恐怕损坏可控硅或测试二极管，但分析产生触发过程表明：二极管在可控硅阳极A电压由零上升到O.7V以上时，开始有正向电流，到5V左右时，大多数可控硅即会导通，导通后AK正向电压仅（0.7～1）V左右，二极管在此低电压作用下。其通过GK的电流接近零。并且触发电压、电流、脉宽还能够根据可控硅需要量自动调整。图2是SCR触发过程电源电压曲线，最大值311V，粗线表示AK承受电压曲线，正向最大值由该可控硅所需要的触发电压和脉宽确定，仅几伏触发电流起作用的是画剖面线段的时间内，不足电源半周期的百分之一（图未按照实际比例）。如可控硅不通，负载是60W灯泡，测试二极管lN4007承受全部电流也没有问题，因此图1的电路对于被测可控硅和测试用二极管都是安全的（串联电流表时，开始用1A挡1。
用单结晶体管、555两种触发电路和本测试方法，测试了一些可控硅触发情况，并测量可控硅GK正反向电阻（用MF35型表R×10挡），如附表所示。
5A/600V 单结晶体管电路能触发 0.015mA 100Ω 180Ω
5A/600V 单结晶体管电路能触发 0.1mA 150Ω 1.2kΩ
5A/600V 单结晶体管电路能触发 0.18mA 75Ω 1.9kΩ
2OA/800V 单结晶体管电路能触发 0.1mA 900 120Ω
l0A/800V 555 电路能触发，单结晶体管电路不能 0.8mA 40Ω 9Ω
20A/800V555 电路能触发．单结晶体管电路不能 0.4mA 100Ω 800Ω
20A/800V555 电路能触发，单结晶体管电路不能 0.13mA 11Ω 600Ω
10A/800V 两种电路均不触发，本测试能触发 4.1mA 35Ω 350Ω
20A/800V 两种电路均不触发，本测试能触发 5.0mA 48nΩ 48Ω
表中反映较容易触发的可控硅（单结晶体管触发电路触发功率较小），测试的触发电流较小，但同一规格产品差别甚大，这一方面表明所需触发电压、脉宽的差异，还有一个重要因素是可控硅导通后正向电压降大小，因导通时间远大于触发时间，它对通过二极管电流影响更大。当所测电流较小时，该可控硅正向电压降也较小，这是一个优良SCR。
除SCR确实损坏，本电路无一例外都能触发。利用该测试电路把某些控制器上不能触发，但并未损坏的可控硅挑选出来，作整流管使用，如图3（a）中lOA可控硅AG并联1N4007后，相当图3（b）10A整流管。我用它们装配成给10kW发电机的励磁整流器，在农村某加油站使用，四年多没有出现故障。
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